规范用词二探针法
英文翻译two-probe measurement
名词定义在柱形样品两端通以直流电流，测量垂直压在被测样品侧面的两支金属探针之间的电位差，由此计算被测半导体样品平均体电阻率的电学测量技术。
所属学科材料科学技术 > 半导体材料 > 半导体材料性能测试
名词审定材料科学技术名词审定委员会
见载刊物《材料科学技术名词》 科学出版社
公布时间2011年